鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：

1、光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準為：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準為：GB/T16921-2005

3、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準為：GB/T4955-2005

金層測厚儀測量標(biāo)準

1國標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美國標(biāo)準A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

儀器分析原理

XTU金層測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

樣品測試步驟

1）              每天開機預(yù)熱30分鐘后打開測試軟件“FpThick"：

用戶使用“Administrator"，密碼：skyray

2）              進入測試軟件后，選擇“測試條件"

點擊“確定"，即測試條件確定（儀器已設(shè)置好）

3）              選擇“工作曲線"

如待測樣品是鐵鍍鎳，則選擇Ni-Fe；其他依次類推

4）              放入“Ag片"對儀器進行初始化

初始化完成后，（峰通道為1105，計數(shù)率達到一定的數(shù)，如300以上）。

5）              待測樣品測試

放入待測的樣品，通過攝像頭畫面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況，以及儀器的X射線的聚焦點。可以通過軟件提供的十字坐標(biāo)（也稱十字光標(biāo)）來定位該聚焦點，將樣品放在聚焦點位置。點擊“開始"，輸入樣品名稱后“確定"。

6）              測試完成后即可保持報告，報告的位置可以在桌面的“分析報告"快捷方式中的“鍍層報告"中找到。

注意：測試鍍層樣品時，必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應(yīng)的工作曲線測試。

金層測厚儀性能特點  

1. 長效穩(wěn)定X銅光管；

2.半導(dǎo)體硅片電制冷探測器，摒棄元素識別能力較弱的計數(shù)盒；

3.內(nèi)置天瑞儀器研發(fā)部研發(fā)的—信噪比增強器（SNE）與MCA多道分析器；

4.內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時觀測樣品；

5.脈沖處理器，數(shù)據(jù)處理快速準確；

6.手動開關(guān)樣品腔，操作安全方便；

7.三重安全保護模式；

8.整體鋼架結(jié)構(gòu)、外型簡潔；

9.FP軟件，無標(biāo)準樣品時亦可測量。