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XAU光譜分析儀是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的光譜分析儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計，是一款一機(jī)多用型光譜儀。 應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù)，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測及成分分析。 被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

XTU-BL X熒光光譜儀是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度*的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強(qiáng)的機(jī)型。 測量面積：最小0.002mm²鍍層分析：23層鍍層24種元素儀器特點：可手動變焦儀器優(yōu)勢：同元素不同層分析

XTU-50B X射線熒光譜儀 XTU系列測厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。 檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。

出租出售X-RAY測厚儀 XTU系列測厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。 搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。

一款高精密的微型多線咬合的高精密滑軌，測厚儀高精密XY移動平臺滑軌可用于X-RAY測厚儀的XY軸的位移控制，此滑軌使用多線齒輪結(jié)構(gòu)從而使滑軌非常順滑和快速同步，滑軌精工細(xì)作，操作流暢，精準(zhǔn)度高，調(diào)節(jié)速度快，樣品直接放置在平整的支撐臺上，或者定位精度更高的手動XY工作臺上。高精密的移動平臺可以精準(zhǔn)移動定位0.01mm。

電鍍液測試樣品杯，嚴(yán)格控制了容量和溢出物的處理，用來測試藥水溶液中金屬離子的濃度；使用方便簡捷，無污染。電鍍液測量杯